偶看新闻昆明外星人网吧:屡烧行管的检修方法
来源：百度文库 编辑：偶看新闻 时间：2024/05/05 08:19:03
屡烧行管的检修方法
烧行管的原因主要有
1、行电压过高。
2、行激励不足。
3、行管的参数不良。
4、散热不良。
5、行频不稳过高过底。
6、行逆程电容容量下降
行管损坏是维修显示器时最常见的问题,而屡坏行管更是令人头疼的一件事,那么发生问题的根源何在呢?
一般来讲造成行管损坏的原因有以下几种：
1.行管质量有难以预见的缺陷,使用中自然损坏。
2.逆程电容容量减小或开路使行逆程脉冲幅度异常升高。
3.行电源电压过高使行逆程脉冲幅度异常升高。
4.行负载短路、漏电引发的过流,这里的行负载是指行输出变压器、偏转线圈、S校正电容等元件。
5.行频过高或过低。
6.行激励不足。
7.行阻尼二极管特性变坏。
8.人为因素。
在实际维修中
第1种情况是造成行管损坏的主要原因,一般更换行管即可。
第2种情况引发故障的多是逆程电容开焊造成的。
5、7种情况实际很少发生,这里就不讲了。
第3种情况引发行管击穿较多,特别是采用降压型DC/DC变换电路的行二次开关电源的尤为突出。当这种电源的开关管击穿时,行管往往因为行电压过高而击穿,而且当行管击穿后也会造成开关管因过流而损坏,两者互为因果,相辅相成,检修时要一一检查,不可遗漏。值得注意的是当行电源开关管损坏后测量的结果并不都是击穿,个别会表现为D、S极导通压降增大,如不换下也会屡烧行管,我就见过这么一台Apple显示器,换了IRF9630才好。再有降压型行二次开关电源的储能电感线圈也可能因烧毁而使行电压异常升高,从而损坏行管（有一阶段飞利浦显示器批量损坏这个电感,但好象行管没损坏,可能电路保护设计得好吧）。关于第4种情况首先要说明的是显示器的行输出变压器工艺要求要高于彩电行输出变压器,损坏几率相当低,不应动不动就判定行包损坏。从我接修的大量显示器看,很多维修人员并不清楚这一点。判断行输出变压器损坏要慎重,因为显示器行输出变压器不但价格较贵而且不易购到,当然行偏转线圈更是如此。一般多频显示器中至少有两个S校正电容,我们可以依据位置的不同可以分别称之为上S校正电容、下S校正电容。实践中我发现下S校正电容损坏较多,此时行幅多会发生变化。当下S电容击穿、漏电时行幅变宽,行电流增大,行管工作温度上升,长此以往行管会热击穿。当然行幅调整管、下阻尼二极管击穿也会造成同样问题。
我在实践中发现第6种情况引发问题的几率很高,第8种情况则不易让人想到。行管的工作温度与它的基极激励状况息息相关,我曾用示波器观察过ADI、PHILIPS、EMC等多种显示器,发现PHILIPS显示器行管的激励波形近乎完美（相对而言）,其工作温度始终不是很高。从实践中看PHILIPS显示器行管的问题较少,相比之下同档次的ADI则行管激励波形不是很好,工作温度较高,行管的损坏明显偏多。这可能是近水楼台先得月吧,因为象BU2508、2520、2522就是PHILIPS的产品。一般设计为了让行管的饱和截止迅速完成,常在行管与行推动变压器间的限流电阻上并联一个电容及一个反向的二极管。通常这个电容是有机性的电解电容,容量从几?到几百?,随着使用时间的增加这个电容会出现损耗增加、容量缩减（当其损坏后用指针万用表通常是测不出来的,一般用数字万用表电容挡较易发现问题。这是因为电容的容量就是采用交流电（好象是1KHz吧）测出的,电容的工作是与频率息息相关的,这些坏电容一般都是高频特性变坏,在低频电路中未必不能使）,行管因为工作条件变坏而剧烈发热,最终热击穿。而PHILIPS电路中也有加速电容,但那是一只小容量的无机性电容。检查这类问题使用示波器是必要的,但值得注意的是每一种显示器的波形是有差异的,不能生搬硬套。以个别EMC显示器为例,它的波形幅度会小些,但不会影响行管的正常工作,为了不走弯路要多积累些实测数据。在选取电解型加速电容时,如果原位置允许的话,应尽量采用体积大、耐压高的、工作温度高的,并且要避开发热源。这是因为它工作在高频状态下要求严格,如果你摸一下工作中的它,你就知道它本身可能就很热。
第8种情况:
我常常在报刊上看到有人采用彩电行管上到显示器上,我总想问：这能修好吗？我就有过用BU508当显示器行管的经历,那次大约两个小时后BU508因发热严重而击穿,不得已将仅有的一只BU2508换上去,长时间工作只是微温。对此的详细分析请大家不妨参看电子工业出版社的《新型显示器电路分析》一书第228页至232页,还有该社更早出的一本书,大概叫《长城显示器电路原理与维修》吧。这里我想说另外一件事——小心你的行管有假。5年前我曾从广东某公司邮购了几只C4769,上机后发现剧烈发热。检查一番后开始怀疑C4769是假的,遂与真品仔细对比。真是不比不知道,一比吓一跳。五只管子中有四只表面打磨过,真品的字迹是印上去的,而假的居然是激光刻字的!前年我买了20只BU2520DF,上机后又发现剧烈发热的问题,激励波形明显幅度不足。这回首先想到的就是：又遇到假货了。在与真品作外观比较时竟没发现破绽,用万用表测量发现这种BU2520DF的b-e极之间没有几十?的电阻。从此我便更注意观察市场上的假行管了,令人惊奇的是哈尔滨电子市场上卖的显示器用行管假的占了绝大多数,真品甚少。作假手段以打磨为主,但也有“有所突破的”,以假C5250为例,表面与真品是一样的,但引脚明显要宽。现在哈尔滨电子市场上已经几乎见不到真的BU25XX系列行管了!以是否是激光刻字作为判断正品的依据早已过时,现在各大城市都有卖激光刻字机的!由于我经常戳穿卖假件经销商的小把戏,所以与我熟识的高老板笑称我为——刁民。有感于此,我要对众奸商说：你们辛苦了。
下面是几个我在实践中遇到的实际例子,希望能对大家有所帮助。
实例1。一Wanstrow1428显示器无光栅,经查行管击穿。将行管更换,数天后行管再次击穿。检查电源电压没问题,再次上好行管,加电后密切关注行管的温升。发现其短时间内剧烈发热。怀疑行激励不足,测量串联在行推动变压器与行管基极的加速电容,发现其容量由10?下降为1?。将其更换,行管温度正常了。
实例2。一LEC1428显示器行管击穿,更换行管后交付用户。大约半个月后用户又将该机返回,经查发现还是行管击穿。这次将检查范围扩大,逆程电容、S校正电容、行输出、行电源电压都没见异常。再次更换新行管,加电,行可以工作,但行管温度明显高一些。用示波器测行管的B脚,波形稍显模糊。在检查行推动级时无意中测了T601的12V端,发现竟有明显波形,这是不正常的。检查行推动级退耦电容C614（100?25V）,发现其容量仅0.2 ?。更换后12V端波形相当微弱,而行管的B脚波形变得清晰,上升沿、下降沿“干净利索”,长时间工作温度仅是微温。本例也属于行激励不足,从例1、例2可以看出此类故障的典型特点是:不是马上烧行管,但行管工作温度偏高,时间长了行管最终因过热而损坏。这一问题在飞利浦大屏上发生的也是较多的。
实例3。一PANDA CX151显示器出现电源指示灯不亮,且开关电源发出过流保护的声音。检查行管Q702,它击穿了。更换行管后,继续检查发现Q710（BD677）C、E结击穿,用BD681代用。加电后图像正常,用手摸着散热器监视行管的发热情况,发现时间不长行管已明显烫手。检查逆程电电容、S校正电容、更换阻尼二极管都没解决问题。修到这就难以往下进行了,反复考虑后决定测一下行电流是否正常。加电后用2V档测L502（实际安装的是一0.47?电阻）两端,发现行电流开机时增加迅速,且在
实例4。一ADI CM701显示器无光栅,经检查行管已击穿了。更换行管后加电试机,发现行管温度较一般显示器稍高。不一会儿光栅消失,行管再次击穿。再次更换行管,又更换了阻尼二极管,加电后严密监视行管温度,这回与上次差不多。在观察中突然发现在D804处有细小的火花出现,断电检查发现在D804与旁边的散热器之间有一小团絮状金属末。将其取出,加电拷机,该机一切恢复正常。该机以前曾有人修过,看来这一小团金属丝可能是原维修者在拆装屏蔽铁板时新添的“副产品”。本例情况特殊,但也应属于人为因素吧。
实例5.一IBM2248显示器不亮,经检查发现行管击穿。用户反映这台显示器不久前曾因不亮修过,这回又旧病复发。更换行管后,加电拷机,短时间内未见异常,于是扣盖,继续观察。几十分钟后行管再次击穿,在检查了其它元件后,上好行管,加电观察。观察中发现有时光栅突然收缩,成一条垂直亮线。迅速关机,细致检查后发现CRT静电场消除线圈的插头P401与主板上的插座接触不好,打火,塑料部分焦化。处理后,该机恢复了正常。CRT静电场消除线圈与行偏转线圈串接在一起,P401接触不良,打火,从而损坏行管。由上可见行偏转线圈回路打火是引发行管损坏的一个原因。
实例6。一EMC PA-564DA显示器刚开机瞬间有光栅并向垂直中心收缩,如此数次行管就会击穿。从故障现象上看似乎发生了X射线保护。检查中发现行二次电源用储能电容引脚锈蚀断了,更换后行电源电压平稳正常。本例属于行电源引发电压异常升高,EMC其它机型也有相同问题,这应该是厂家选件把关不严。类似问题ADI也有发生。
实例7。一大众14CP显示器不亮,查行管及行电源管损坏,更换试机一切正常,扣盖交付用户。第二天该机就被返回,仍是原故障。再次更换行管、电源管,试机一切正常,交付用户,谁知第三天该机又被返回,用户发映这次开机一会就坏了,还是行管及电源管。我将维修费退给用户,不想修了,用户说就信任你了,放在你这,先不急呐。我静下来仔细考虑,发现这个故障好象与是否上后盖有关－上好后盖就出事。这是否是上好后盖后电路板受挤压,有元件开焊有关呢？经过一番仔细检查发现行场小信号处理IC STV7778外围的一个电容引脚开焊,这个电容好象是振荡电容。补焊后,该机终于正常了。该故障是14CP的通病。至于这当中的“至病”原因我还说不清楚,以前见过因行管基极严重接触不良造成行管击穿的,我想本例与之有类似之处。
行激励不足
行输出级是工作在大功率开关状态，其激励脉冲的幅度便也显的至关重要。自动扫描彩显中行频覆盖范围达最低行频的三倍以上，在此范围内，要使功率开关管工作于理想开关状态绝非易事。影响激励脉冲幅度的因素，除行推动管的开关特性外，行推动变压器的电感分布参数至关重要。所以，彩显的行输出驱动电路中往往加入负载阻抗频率特性校正电路，同时在行输出级中加入电流负反馈电路，平衡不同行频时的激励脉冲。这两种电路在彩显出厂前一般已调整在较为理想状态，当维修中更换行输出管后，行输出级的激励脉冲状态也发生较大的变化。大功率管由于其工艺原因，同型号产品间放大系数hfe值允许变动较大。（大家注意，这才是行管没有通杀的主要原因，我实测常用的C5411的放大倍数为3，而C5449的放大倍数为24，我用C5449代换C5411，即使只在DOS状态下，在不到10分钟的时间内行管已严重过热，13分钟后行管损坏。）因此，更换行输出管后必须调整激励脉冲状态，否则损耗增大，温升在所难免。
现将目前彩显中常用的平衡驱动电路集中画在下图中，该图中包括了四种不同的平衡电路模式：
图是自己画的，“A”点电路是在原有行推动脉冲尖峰吸收电路的基础上改变元件数值，使之有吸收尖峰效果的同时，还具有负载阻抗平衡作用。在普通VGA彩显或电视的行推动电路中都接有C2和R4，用以吸收脉冲尖峰，该尖峰通常是行推动管截止瞬间行推动变压器初级的漏感形成的感应电势，其脉宽远比行脉冲窄，因而在吸收尖峰脉冲电路中，C2的值通常在2200PF以下，取决于调试过程中视行推动级的尖峰幅度。但在自动扫描彩显中，行频升高时，行推动变压器T初级感抗增大，使驱动脉冲幅度升高，此时C2 R4组成“茹贝尔”电路，C2的值可增大到0.047UF，R4减小到10－22欧，随着频率升高，R4 C2阻抗降低，平衡了T感抗的增大。
“B”点电路是在行输出管的发射级接入电流负反馈，提高行输出管的输入阻抗。当负反馈系数一定时，输入驱动脉冲电压越高，负反馈电压越高，驱动电压降低，负反馈电压随之减小，以此使高，低行频时驱动脉冲状态趋于平衡。由于行输出级电流极大，实际在行推动变压器中此负反馈绕组只有1－2匝。
“C”点为电阻平衡频率特性电路是。在行推动变压器次级接入低阻值电阻R7（一般为15－33欧），有助于行推动变压器输出阻抗的平衡。次级输出阻抗为次级感抗和R7的并联值，因R7较小，使次级感抗的变化对次级总阻抗影响减小。但该电路若原电路中R7阻值为1K以上者，当减小R7时，会使行频驱动脉冲幅度同时降低，从而导致行输出管在低行频VGA状态欠激励。故R7阻值的变动不宜与原值差距过大。与R7阻值相关的还有R6，因为C4 R6构成行输出管导通加速电路，进入驱动脉冲的平顶区，由R6与R7的“分压比”决定行输出管的驱动脉冲幅度。同时，R6和D1又构成行输出管截止加速电路（记的前一阵有朋友问这一部分阻容元件的作用，兼作回答吧），所以在无示波器的条件下难以精确调整R6，故不能采用改变R6阻值的方式以迁就R7的设定值。可以认为，电阻的阻值与频率无关，此点即形成R7阻值不同，不仅影响高行频，而且低行频下随R7减小也会降低输出电压，只不过是通过整体的电平降低，减小行频不同时的输出脉冲幅度差距。为了避免低行频时欠激励，有的彩显中R7取值较大（1－10K），R7仅用于校正频率特性，而采用并联二极管D1的RC电路，加快截止速度。
“D”点电路中R7采用10K左右电阻，它只构成行输出管Q2基射的直流通路，另外在Q2基极与地之间接入C5 R8组成“茹贝尔”电路，平衡T次级输出阻抗和脉冲幅度。其原理和C2 R4完全相同，由于T一般为降压型，所以R8的值比R4更小，C5的值必须比C2更大。实用中C5可以大到0.33UF，R8减小为2.2－33欧。
上述A B C D 四种平衡电路，有的彩显只采用其中之一，也有的彩显采用两种以上的平衡电路。
显示器行管损坏的检修
一般来讲造成行管损坏的原因有以下几种：
1.行管质量有难以预见的缺陷，使用中"自然"损坏。
2.逆程电容容量减小或开路使行逆程脉冲幅度异常升高。
3.行电源电压过高使行逆程脉冲幅度异常升高。
4.行负载短路、漏电引发的过流，这里的行负载是指行输出变压器、偏转线圈、S校正电容等元件。
5.行频过高或过低。
6.行激励不足。
7.行阻尼二极管特性变坏。
8.人为因素。
第1种情况是造成行管损坏的主要原因，一般更换行管即可。
第2、5、7种情况实际很少发生，这里就不讲了。
第3种情况引发行管击穿较多，特别是采用降压型DC/DC变换电路的行二次开关电源的尤为突出。当这种电源的开关管击穿时,行管往往因为行电压过高而击穿，而且当行管击穿后也会造成开关管因过流而损坏，两者相辅相成，检修时要一一检查，不可遗漏。值得注意的是当行电源开关管损坏后测量的结果并不都是击穿，个别会表现为D、S极导通压降增大，如不换下也会屡烧行管。再有降压型行二次开关电源的储能电感线圈也可能因烧毁而损坏行管。
第4种情况首先要说明的是显示器的行输出变压器工艺要求要高于彩电行输出变压器，损坏几率相当低，不应动不动就判定行包损坏。从我接修的大量显示器看，很多维修人员并不清楚这一点。判断行输出变压器损坏要慎重，因为显示器行输出变压器不但价格较贵而且不易购到，当然行偏转线圈更是如此。一般多频显示器中至少有两个S校正电容，我们可以依据位置的不同可以分别称之为上S校正电容、下S校正电容。实践中我发现下S校正电容损坏较多，此时行幅多会发生变化。当下S电容击穿、漏电时行幅变宽，行电流增大，行管工作温度上升，长此以往行管会热击穿。当然行幅调整管、下阻尼二极管击穿也会造成同样问题。
第6种情况我在实践中发现引发问题的几率很高.
第8种情况则不易让人想到。行管的工作温度与它的基极激励状况息息相关，我曾用示波器观察过ADI、PHILIPS、EMC等多种显示器，发现PHILIPS显示器行管的激励波形近乎完美（相对而言），其工作温度始终不是很高。从实践中看PHILIPS显示器行管的问题较少，相比之下同档次的ADI则行管激励波形不是很好，工作温度较高，行管的损坏明显偏多。这可能是近水楼台先得月吧，因为象BU2508、2520、2522就是PHILIPS的产品。一般设计为了让行管的饱和截止迅速完成，常在行管与行推动变压器间的限流电阻上并联一个电容及一个反向的二极管。通常这个电容是有机性的电解电容，容量从几μ到几百μ，随着使用时间的增加这个电容会出现损耗增加、容量缩减。行管因为激励不足而剧烈发热，最终热击穿。而PHILIPS电路中也有加速电容，但那是一只小容量的无机性电容。检查这类问题使用示波器是必要的，但值得注意的是每一种显示器的波形是有差异的，不能生搬硬套。以个别EMC显示器为例，它的波形幅度会小些，但不会影响行管的正常工作，为了不走弯路要多积累些实测数据。在选取电解型加速电容时，如果原位置允许的话，应尽量采用体积大、耐压高的，并且要避开发热源。这是因为它工作在高频状态下要求严格，如果你摸一下工作中的它，你就知道它本身就很热.
总结4：屡烧行管原因与维修
1、开关电源输出高压偏高
由于电源稳压系统出故障，不能稳压，导致+B电压上升。如果+B电压超过10%以上，会产重型珩管击穿损坏现象。这时应重点检查取样电路、误差放大器和脉宽控制电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源允许的稳压值范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
2、行偏转线圈或行输出变压器局部短路
行偏转线圈或行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短路，如果保护电路性能不佳，则会引起行管损坏。这时可瑟同型号正常机器相比较，通过测量行输出级电流来判断。如果开机瞬间马上就烧坏行管，此时用手摸散热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行管过流击穿。
3、行频过低
因为流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行管所承受的电流最大值时，使行管烧坏。因此，在调整行频时，应避免使行频长期处于偏低状态。
4、行逆程时间过短。
在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容、行输出管、阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小、失效或环节路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行管的耐压值，就会出现行管换一只烧一只的结果。此时，迅速用手摸行管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是因为逆程电容开路而引起的过压击穿。解决方法，是将行逆程电容全部换新。
5、行激励不足
如果行激励不足，行管不能迅速饱和，导致行管内阻变大，使行扫描纯正性变差；如果行激励不足，行管不能迅速地截止，使行管长时间地处一动有电流渡过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦超过行管功耗的极限值，则会使行管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的刚开机就烧坏行管，有的过一段时间才烧坏行管。若时间间隔长，不妨用示波器观察激励级的波形，可帮助找到故障原因。造成行激励不足的原因有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻值增大；行激励变压器周围元件有虚焊；行激励变压器初级绕组上的滤波电容变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失效造成滤波不良。
6、环境潮湿
这使行输出变压器周围元件漏电，或者因散热不良（如将彩电置于柜内，或维修时行管与散热板上的固定螺丝未拧紧），行管过热，使其耐压降低，最终损坏行管。
7、行偏转线圈开路
此时行扫描正程后半段行管导通的时间将会大于其截止的时间，使行管在逆程时间内也短暂导通，导致行管损坏。因此，维修时要特别小心，在行偏转线圈及其回路开路的情况下，如果长时间通电检修，是极危险的。
8、S校正电容短路，枕校电路元件短路
使行电流大增，造成行管因过流而击穿。
此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露（如高压打火，高压线穿孔），行管质量差、显像管内部跳火、AFC电路有故障等，也会造成行管击穿。
9、开关电源中的行脉冲信号耦合电容、取样电压滤波电容失容。
受附近大功率元件高温烘烤后，容易失容而变质，导致行管击穿，根治方法是将这些电容换成钽电容